老化和测试插座
半导体老化和测试插座对于测试和验证所有类型的集成电路 （IC），包括处理器和微芯片至关重要。插座是半导体器件和测试设备之间的关键接口，可在半导体制造过程中实现精确的测试和验证，同时具有效率和成本效益。
加快上市时间
Boyd 数十年的半导体插座设计专业知识和强大的专有建模工具使我们能够快速迭代设计并加快上市时间。
增强芯片测试处理能力
全球覆盖，本地支持
降低总拥有成本
集成解决方案可最大限度地减少或消除浪费、维护费用和停机时间。
减少保修索赔
售后服务
什么是半导体插座？
半导体插座是将被测半导体器件 （DUT） 与测试设备连接的专用设备，可实现半导体元件的精确高效测试。插座将电气、机械和热方面结合到一个组件中，以简化 DUT 的测试或验证。半导体插座可分为测试插座或老化插座。
什么是半导体测试插座？
测试插座用于确定半导体器件的功能和性能。测试插座可用于从初始半导体设计到最终生产的整个开发过程。测试插座功能取决于指定的测试要求。
什么是半导体老化插座？
老化插座是一种机电设备，用于加速 IC 上的压力并造成婴儿死亡率，使半导体公司能够从生产人群中消除弱 IC。这使制造商能够在将半导体集成到电子设备之前确保半导体的可靠性和质量，从而延长最终电子组件的最短寿命。老化测试可提高整体可靠性并减少电子产品的保修索赔。
哪些半导体器件需要测试？
所有类型和功能的半导体芯片都受益于插座测试，以在设计或制造的早期识别缺陷、故障或性能问题。芯片测试可缩短设计周期，确保芯片符合其设计规范和质量标准，并在各种条件下可靠运行。
例如，涉及存储器/数据存储和逻辑/处理的半导体芯片，如 DRAM、NAND 闪存、ASIC、GPU 和 CPU，都要进行插槽测试。然而，具体的测试方法，无论是批量还是 100%，都取决于芯片的关键性、预期应用和生产量。无论采用何种测试方法，插座测试都是在将这些芯片集成到电子设备之前验证其功能和质量的重要步骤。
为什么需要插座测试？
插座测试自动化支持高速测试和快速验证，有效缩短半导体元件的测试时间。在开发阶段及时识别和解决缺陷或性能问题，使工程师能够加快必要的改进，从而缩短开发周期并缩短上市时间。严格的插座测试是一项重要的预防措施，可降低现场故障和保修索赔概率，提高电子产品的可靠性和耐用性，并提高客户满意度。
通过将测试插槽与 Boyd 的 TCU 配对来提升测试能力
将您的测试插座与 Boyd 的 TCU 配对，以提高测试结果的准确性并识别与温度敏感性相关的潜在问题。Boyd 插座与 TCU 相结合，可实现更可靠、更高性能的半导体元件开发。
Boyd 的半导体老化和测试插座
Boyd 高度可靠的逻辑和内存老化和测试插座采用突破性的接触技术，以确保坚固的电气和机械连接。我们的平台设计提供无损检测功能，并在基座插槽中提供无与伦比的灵活性，以实现与各种封装尺寸的无缝兼容性。定制适配器是为满足特定客户要求而量身定制的。我们的插座具有使用寿命等级，可承受多达 10.000 次插入和拔出，突出了它们的耐用性和持久性能。
测试插座的可靠性和特性
用于半导体生产的可靠性和特性测试插座需要严格的评估，对稳定性优化的不懈关注，以及对始终如一质量的坚定承诺。通过积极解决潜在的弱点并不断寻求改进，Boyd测试插座在其整个使用寿命期间（从初始测试到千分之一）都遵守最严格的质量和可靠性标准。
有疑问？我们随时可以提供帮助！
